Atomkraftmikroskop
Fra Wikipedia, den frie encyklopedi
Atomkraftmikroskop (eng. atomic force microscope, AFM) er et meget kraftig mikroskop som ble funnet opp 1986. Oppløsningen er så god at den kan avbilde enkeltatomer. I tillegg til å fungere som mikroskop kan det også brukes til å manipulere stoff på nanonivå.
Mikroskopet fungerer ved at en liten tupp skraper i overflaten på stoffet. Kontaktkraften får tuppen til å bevege seg og denne bevegelsen blir registrert av en laser som reflekteres i overhenget tuppen er festet i.
Mikroskopets begrensning er at det bare kan studere overflater av forholdsvis fast stoffer.
Atomkraftmikroskop er ett av en rekke skanning probemikroskoper, slik som skanning tunneleringsmikroskop og magnetisk kraftmikroskop.
Denne fysikkrelaterte artikkelen er dessverre veldig kort. Om du vet mer om temaet kan du hjelpe Wikipedia ved å utvide den.
