Atomic Force Microscope
Fra Wikipedia, den frie encyklopædi
Et atomic force-mikroskop, kaldet AFM, er et meget kraftigt mikroskop, der blev opfundet i 1986. Udover dets egenskab som mikroskop, bruges det også til at manipulere med stof på nanoskala.
Ideen er at benytte en vippe, ligesom i svømmehallen. Når en person står for enden bøjer vippen og vi kan ved at måle denne udbøjning registrere personens vægt og hermed måle tyngdekraftens størrelse. Er vippen kort eller tyk bøjer den ikke ret meget. Med andre ord egner den sig til meget store personer. Er vippen derimod lang og smal bøjer den meget og vi kan måle mindre tyngdekrafter.
Når vi skal måle kraften mellem atomer skal vippen eller bjælken være utrolig lille og tynd. Man kalder dette for en kantilever (eng. for bjælke).
