Microscopio de fuerza atómica
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El Microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los piconewton. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm de longitud.
La fuerza atómica se puede detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie de la muestra. La flexión del listón se registra mediante un haz láser que se refleja en su parte posterior de la palanca para alcanzar un fotodetector. Un sistema auxiliar piezoeléctrico es el encargado de desplazar la muestra tridimensionalmente, de manera que la punta rastree ordenadamente la superficie. Todos los movimientos son controlados por una computadora.
La resolución vertical del instrumento es de menos de 1 nm, y permite distinguir detalles tridimensionales en la superficie de la muestra con una amplificación de varios millones de veces.
El AFM también es utilizado para medir las propiedades viscoelásticas de muestras así como para el estudio de la interacción entre moléculas individuales.
[editar] Enlaces externos
[editar] Fabricantes
- Ambios Technology
- Veeco Instruments
- Infinitesima - VideoAFM
- JPK Instruments AG
- Agilent Technologies AFM, formerly Molecular Imaging
- Nanosurf
- Anfatec Instruments AG
- Novascan Technologies
- NT-MDT
- Omicron NanoTechnology GmbH
- Pacific Nanotechnology, Inc
- Asylum Research
- PSIA Inc.
- Nanotec Electrónica (en inglés y español)
