STM
Z Wikipedie, otevřené encyklopedie
STM (z angl. Scanning Tunnelling Microscope), jehož české označení zní řádkovací tunelový mikroskop, je druhem neoptického mikroskopu, který mapuje povrch vodivého vzorku pomocí změny průběhu potenciálu, resp. proudu při pohybu vodivé sondy nad vzorkem. Přesněji se jedná o závislost množství elektronů (velikosti el. proudu), které tuneluje z materiálu do hrotu sondy a jež je exponenciálně závislé na vzdálenosti. STM byl vynalezen v roce 1981 G. Binnigem a H. Rohrerem.
[editovat] Podívejte se také na
Tento fyzikální článek je pahýl. Můžete pomoci Wikipedii tím, že jej vhodně rozšíříte. |